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瑞环香港有限公司

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日本精工电子有限公司（Seiko Instruments Inc.简称SII），于1978年领先于其他厂商，研究开发出日本第一台荧光X射线镀层厚度测量仪－SFT155。经过二十多年的努力，现在的荧光X射线镀层厚度测量仪能够准确地测量微小面积的镀层厚度。现已为全世界电子零部件、印刷电路板、汽车零部件等... [更多详细]

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